TOKIO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (presidente y director ejecutivo Izumi Oi) anunció su lanzamiento del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i” el 1 de febrero de 2023.
Con la estructura más fina de materiales avanzados y creciente complejidad de procesos, las técnicas de evaluación, tales como la observación morfológica y el análisis elemental requieren mayor resolución y precisión. En la preparación de muestras para microscopios electrónicos de transmisión (transmission electron microscopes, TEM) en el sector de semiconductores, así como también en los campos de baterías y materiales, se necesita “mayor precisión” y “muestras más delgadas”.
Este producto es un sistema combinado del sistema FIB (haz iónico focalizado [Focused Ion Beam]) que puede procesar con gran exactitud y del sistema SEM (microscopio electrónico de barrido [scanning electron microscope]) de alta resolución para satisfacer estas necesidades.
Características principales
Objetivo de ventas
50 unidades/año
URL del producto: https://www.jeol.com/products/scientific/fib/JIB-PS500i.php
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan [Japón]
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código bursátil: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com
El texto original en el idioma fuente de este comunicado es la versión oficial autorizada. Las traducciones solo se suministran como adaptación y deben cotejarse con el texto en el idioma fuente, que es la única versión del texto que tendrá un efecto legal.
Contacts
JEOL Ltd.
División de Ventas de Instrumentos Científicos y de Medición
TEL.: +81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php
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